一、基本信息                                                                      

英文名称：Nikon-Structured illumination microscopy

规格型号：N-SIM Ti2倒置型

生产厂家：Nikon

产地：日本

购置日期：2015年7月

二、主要技术参数                                                                  

1. 采集速度和分辨率：15 fps，横向分辨率~115 nm轴向分辨率~269 nm

2. 物镜倍数：倒置：10×，20×，40×，60×,100×(油镜)

3. 目镜倍数：10×

4. 激光器：LU-NV系列激光器规格：405 nm、488 nm、561 nm、640 nm可选：445 nm、514 nm激光组合：405 nm/445 nm/488 nm/561 nm/647 nm

三、主要附件/部件                                                                  

1. 显微镜：电动倒置显微镜ECLIPSE Ti2-E

2. 分析软件：NIS-Elements Ar/NIS-Elements C，NIS-A 6D Analysis

四、功能/主要应用                                                       

1. N-SIM采用尼康创新的结构化照明显微术方法，可以实现N-SIM能快速观察微小的胞内结构及其相互作用。

2. 主要用于生物或医学实验室观察活细胞样品，对所观察到的效果进行照相并记录，在亚细胞或分子水平上对于细胞内的空间结构进行2维或3维观察。

五、服务信息                          

设备联系人：邵继承

放置地点：西教学楼101

电子邮箱：shaojicheng1234@qq.com